鸿怡电子lga测试座特点及性能参数-九游会平台

lga测试座特点及性能参数：

封装兼容设计，只要换座头，可兼容测试tsop封装和lga封装的flash的测试、量产。大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的lgaflash;

主控板兼容设计，只要更换主控板的主控ic，可实现芯邦。采用一拖四架构设计，省去外置hub，每台电脑可同时量产16pcsflash芯片，效率倍增;

lga测试座测试寿命可达20万次以上，是同类寿命的10倍以上;并且探针可更换，维修方便，成本低;采用手动翻盖式结构，操作方便;

上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证ic的压力均匀，不移位;高精度的定位槽，保证lga定位精确，生产效率高;整机24小时工作性能稳定可靠，是flash经销商及u盘工厂好帮手!

探针材料：铍铜(标准);

绝缘材料：fr-4、pps等;

最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);

交货快：最快一天内交货。

lga测试座主要功能：

对flash进行清空及分类挑选。

对nandflash进行格式化，测试实际可以用容量。

对flash进行直接量产，提高u盘生产效率。

鸿怡电子拥有16年行业经验，中国优质ic测试座生产厂家，公司专营各类应用于集成电路功能验证的测试座、老化座、烧录座、集成电路应用功能测试夹具，咨询热线：400-0260-928