qfn16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例-九游会平台

qfn16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例-九游会平台

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2023-02-07 15:16:17 

qfn老化测试座规格参数:

测试芯片封装类型:qfn

测试芯片引脚:16pin

测试引脚间距:0.5mm

测试芯片尺寸:3×3mm


qfn老化座

qfn16pin封装芯片老化测试要求:

老化测试温度:-40°~ 100°

性能测试:测试电流:整体1a

测试回损:-20db@2ghz

测试插损:-2db@2ghz

测试温度:正常温度

老化测试座材料:合金

老化测试座结构:旋钮式双扣

制作方式:加工定制

qfn下压老化座

在各类封装芯片测试座、老化座的制作案例中,qfn封装类型的测试需求目前来说需求量还是很大的,在鸿怡电子常见的有qfn8、qfn32、qfn48等等这种类型的测试座、老化座socket需求 v威(icsocket66888)(功能性测试和性能测试需求请在与工程师对接的时候要注明!

qfn16pin芯片老化测试座


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