鸿怡电子plcc48封装光电通信模块测试座案例-九游会平台

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2023-02-02 11:20:25 


plcc图纸目的:光电通信模块测试

名称:plcc测试座、clcc测试座

plcc48pin封装芯片测试座规格:

芯片封装类型:clcc、plcc

芯片引脚:48pin

芯片引脚间距:1.0mm

芯片尺寸:16.4×16.4mm

芯片厚度:4.0mm

clcc封装芯片测试座

测试温度:-50°~ 100°

测试时长:持续1000小时左右

测试频率:1mhz

测试速率:单通道速率(3gbps-10gbps)

测试电流:500毫安内

光电通信模块测试座

在鸿怡电子众多hmilu封装芯片测试座案例中,后续将会分享更多的ic测试座、老化座、烧录座、芯片测试夹具、芯片测试治具、芯片测试架等案例,仅供参考,敬请关注!


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