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定制sot23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座

工厂介绍 鸿怡电子生产定制sot23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。

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新能源汽车车规芯片dfn封装mos场效应管\大功率管 测试座_pdfn芯片老化座

该qfn产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于pdfn、dfn、to等封装大电流大功率芯片、mos管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老...

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to封装元器件测试座 to46-5pin老化座耐高温 to46-5pin热电堆传感器老化座

产品名称：to 系列老化座
型号：to46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用...

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to封装元器件测试座 to56老化座耐高温 to56光电堆传感器老化座

产品名称：to 系列老化座
型号：to56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...

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to封装元器件测试座 to46老化座耐高温 to46热电堆传感器老化座

产品名称：to 系列老化座
型号：to46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...

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大电流弹片微针模组

测试座 – 微针模组
封装类型zif, btb 连接器 (公母座), btb connector, pcb
引脚数2~100
间距0.175mm ~ 0.4mm
导电体other
用于小间距的fpc/连接器，照相机模组...

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lcd fpc connector弹片微针模组测试座

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5032-4pin晶振探针老化座 5.0×3.2mm crystal oscillator测试座

工厂直销，接受批发、零售
贴片晶振5032 5.0*3.2mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
量大从优，欢迎咨询

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bga784芯片测试座 定制bga测试socket

材质： pes,pei
导电体： 镀金探针
触点压力： 30-50g per pin
接触阻抗：30mω or less at 10ma and 20mv (initial)
耐电压： 1minuteatac700
绝缘电阻：1000 mω min,at dc 500v
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定制sop2509摄像头芯片ate测试座 ic测试座厂家

1、此款测试座适用于自动烧录、测试机台.可设计成翻盖/手自一体的结构，定位精准，操作方便;
2、采用进口镀金探针和防静电材料（torlon\pei\pps\peek) 对残球、锡球不匀的ic都能精确接触。
3、socket只...

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定制qfp144测试座 qfp芯片测试座 ic测试座工厂直销

1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8pitch等
2、材料：fr4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封种：bga/qfp/qfn/wcsp等
4、结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、open-to 更多

qfn10（3*3）下压弹片测试座 芯片适配座qfn10老化座0.5间距

鸿怡电子主要生产、销售各类ic测试座,ic测试夹具,老化测试座,高频测试座,bga测试插座,贴片sop测试插座等.测试座封装含概:bga,,csp,pga,qfn,mlf,lga,qfp,tsop,sop,plcc,soj,to等,并且可以根据客户需求定制bga/qfn测试...

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