sot89/353/363/323/223/263等系列老化测试座 support igbt mosfet and other function ic: sot系列老化座:sot(small outline transistor)类芯片是一种封装形式,常用于集成电路芯片。它是一种小型封装,具有较高的密度和较小的尺寸。sot类芯片有多种尺寸和引脚数,常见的有sot-23、sot-89、sot-223等。 sot类芯片的老化座用于模拟芯片在长时间使用过程中的老化情况。它可以通过
芯片ltol测试:了解其原理及重要性 根据鸿怡电子芯片测试座工程师介绍:芯片ltol(lifetime or temperature operating life)测试是一项重要的芯片可靠性测试方法,它用于评估芯片在长时间使用或极端温度环境下运行的可靠性。通过进行ltol测试,工程师可以确定芯片在实际应用中的寿命和性能表现,从而提前发现潜在的问题,保证芯片的可靠运行。 1、我们来了解一下ltol测试的原理。ltol测试基于芯片在高温环境下的应力老化现象。在测试中,芯片会