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- [新闻中心]电源芯片测试：tsdso封装芯片的类型、特点，以及对应的芯片测试座详解2023年08月31日 16:46
- 电源芯片测试：tsdso封装芯片 与 常规电源芯片bga144/77芯片的区别 电源芯片封装类型之tsdso： 电源芯片作为电子设备中的重要组成部分，其测试是至关重要的。其中，tsdso封装类型成为了电源芯片测试中的一个重要考核指标。 tsdso封装类型，即“d2-pak”或“to-263”，根据鸿怡电子芯片测试座工程师介绍：tsdso封装采用了脚距、排列密度等方面的优化设计，使得其具有较高的功率承载能力及电气性能。在电源
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- [新闻中心]什么是半导体功率器件、继电器、光器件、同轴器件？采用to封装的特点以及to系列老化测试座的选择！2023年08月21日 17:31
- 同轴器件、半导体功率器件、继电器和光器件是现代电子领域中常见的一些器件类型。根据鸿怡电子负责半导体相关器件老化测试座的工程师介绍：它们在电路设计和电子设备中起着重要的作用。在本文中，我们将对这四种器件进行详细的介绍和解释。 首先我们需要先了解一下半导体功率器件、继电器和光器件、同轴器件是什么？ 1、半导体功率器件是一种能够在电路中控制和传输功率的器件。它主要由半导体材料制成，具有高效率和高耐压特性。半导体功率器件包括晶体管、场效应管和双极型晶体管等。它们被广泛应用于
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- [新闻中心]芯片测试座工程师带您了解ufs封装芯片测试之ufs测试座socket2023年07月26日 17:03
- 在芯片工艺的不断发展中，ufs（universal flash storage）封装芯片成为当今存储技术领域的重要角色。作为一种新一代存储标准，ufs提供了更高的数据传输速度、更大的存储容量以及更低的能耗。根据鸿怡电子ic测试座工程师在设计和制作ufs测试座socket的开发和生产过程中，对ufs封装芯片进行全面的测试是至关重要的，而ufs测试座socket则是这个过程中必不可少的关键工具。 ufs测试座socket是一种用于连接和测试ufs封装芯片的设备，它扮演着一个桥
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- [新闻中心]多维度详解衰减器的芯片类型、特性和封装及如何选择测试座socket2023年07月25日 16:30
- 多维度详解衰减器的芯片类型、特性和封装及如何选择测试座socket 衰减器（attenuator）在电子通信和射频系统中扮演着重要角色，用于调节信号强度。本文将根据近期鸿怡电子接到的衰减器芯片测试座socket案例进行详细介绍衰减器的芯片类型、特性和封装，以及测试衰减器好坏的方法，同时也探讨如何选择与需求匹配的测试座。 i. 衰减器的芯片类型 衰减器的芯片类型取决于应用需求。常见的芯片类型包括： 1. 表面贴装封装（smt）：其中包括无引线平面封装（qfn）和小尺寸
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- [新闻中心]5分钟带您了解目前主流的芯片老化测试座socket2023年07月21日 10:26
- 芯片老化座又称为芯片老炼座，ic burn in socket, ic aging socket,目前主流的封装包括：bga qfn qfp sop soic pga fpga fp tf dip等封装的老化测试座。老化测试因其测试的侧重点不同又分为：hast、pc、htrb、htgb、htol、ltol、htsl、ltsl、thb等测试种类，基本上围绕着高温、低温、高湿的环境来，同时辅助对应的测试时长。芯片老化低温最低是-55℃，最高一般在155℃，不过也有特殊芯片需要17
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- [新闻中心]半导体芯片测试：高低温老化（htol）测试--老化测试座sokcet2023年07月12日 14:59
- 根据鸿怡电子老化测试座工程师介绍：芯片老化测试被广泛应用于半导体电子产品的开发和生产中，其目的是通过模拟实际操作情况下的高温环境，来测试芯片在高温下的运行情况和性能变化。该测试是电子产品质量控制过程中必不可少的一步。 htol测试中每个环节都非常重要。一旦某一环节出现问题，导致芯片故障，将直接导致大量的人力、物力和财力，而且由于老化过程数据不足，难以分析具体原因。由于老化测试周期长，许多芯片公司很难承受重新进行老化测试的时间成本。对于老化试验，从样品的选择和测试、老化板方案
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- [新闻中心]鸿怡电子带您了解半导体功率器件之全控型器件测试与测试座socket2023年05月22日 16:11
- 半导体功率器件之全控型器件 根据鸿怡电子制作半导体功率器件测试座socket的相关经验来讲，主要分为以下几点： 一).功率晶体管(gtr,巨型晶体管)、双极结型晶体管(bjt) 1、功率晶体管(giant transistor--gtr,巨型晶体管)、双极结型晶体管(bipolarjunction transistor--bjt)，这两类三极管在半导体功率器件是等效的，在20世纪80年代，在中、小功率范围内取代了晶闸管，但随着mosfet、igbt的发展，逐渐被替代。
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- [新闻中心]半导体功率器件之绝缘栅双极晶体管(igbt)以及对应的igbt测试座socket2023年05月19日 16:40
- 根据鸿怡电子多年针对半导体功率器件igbt测试座socket的经验，总结出此类客户的测试条件要求以及相关的物理知识（仅供参考），欢迎大家一起讨论..... 1、mosfet具有开关速度快，电压控制的优点，缺点是导通电压降稍大，电流、电压容量不大；双极型晶体管却与它的优点、缺点互异。因而产生了使它们复合的思想；控制时有mosfet管的特点，导通时具有双极型晶体管特点，这就产生igbt（insulated gate bipolar transistor）管研制的动机，该管称为绝
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- [鸿怡动态]鸿怡电子为您 深度解析如何更好的完成htol老化测试。2022年06月23日 15:42
- 前面文章中，我们多次介绍了有关于芯片老化测试的一些内容，因为随着国内集成电路的发展如火如荼。集成电路设计公司、晶圆厂、封测厂商数量增加。整个行业慢慢的都在国产化。而另人欣慰的是，集成电路的品质也得到了前所未有的重视。其中，与质量息息相关的可靠性测试也成为重中之重。 今天我们就简单聊一聊：如何完美地做好可靠性测试中最重要的测试：高温工作寿命测试（简称老化测试或htol）。 在上一篇文章中，我们也多次提到htol，那么什么是htol，htol（high temper
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- [鸿怡动态]半導體器件為何要做老化測試？怎樣做芯片的老化？2022年06月21日 16:02
- 老化是有源器件在封裝過程中必不可少的一個環節， 不管是什麼類型器件，to\cqfn\qfp\各類模塊等都有不同的老化要求和方法。 ★ 芯片為什麼要做老化測試？ 我們都知道，可靠性較低的器件在使用早期暴露缺陷，產生失效，渡過早期失效期后，器件性能進入穩定期。此時以隨機失效為主，失效率隨之較低。經歷漫長的穩定期后，器件接近其使用壽命，失效率再次被提升。 而芯片老化試驗的過程就是將可能發生早期失效的產品篩選出來，并使可靠的產品性能迅速進入穩定期。老化是全部芯片必須經歷的一道考
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- [鸿怡动态]ic老化一站式服务，请选择鸿怡电子2022年06月14日 11:24
- 电子时代，随着电子产品更新叠代速度的加快，消费者对产品的挑剔不仅仅局限于产品的外观，对电子产品内在的质量、稳定性也有了诸多要求。一颗好的芯片在电子产品中如同心脏一般起着至关重要的作用。芯片的好坏，直接影响着电子产品的使用寿命。 当前芯片在封装好出厂前，芯片厂商都还会再进行严密的老化试验，一般的老化试验会根据芯片的应用场景不同，包括htol高低温加速老化和hast的温湿度老化测试。 加速老化htol【high temperature operating life】，即在高温
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- [鸿怡动态]qfn32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座2021年10月18日 11:29
- 工厂介绍 鸿怡电子生产qfn32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。 产品简介产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试适用封装：qfn32引脚间距0.5mm测试座：qfn32-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列 规格尺寸qfn32编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：
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