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bga芯片测试座，适配bga封装的784pin芯片
可根据客户需求定制各类ic测试座\ic test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订，欢迎有需要的客户咨询洽...

bga芯片测试座，适配bga封装的256pin芯片，间距0.8mm
芯片尺寸17mm*17mm
可根据客户需求定制各类ic测试座\ic test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
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本款测试座适配wlcsp封装的49pin芯片，pin脚间距0.4mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订，欢迎有需要的客户咨询洽谈

厂家定制各类芯片的测试座、老化座
本产品适用于bga封装的676球芯片，间距1.0mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订，欢迎有需要...

本款ic测试座适配qfn封装 56pin 0.5mm间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片，通孔焊接结构，适合批量烧录、老化使用。
更优的价格，更高的品质，新老客户均可放心选购
若您在我公司网站未找到适合您...

定制产品，适配emcp162/186 封装芯片 可设计任意一拖几结构；
自动测试socket

定制产品，适配qfn44pin, 0.4间距的qfn系列芯片
自动测试socket

新定制：是 产品描述：emmc ate测试座 适用于自动机台测试

一、产品用途:老化座、测试座，对5032(5.0*3.2)的ic芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2pin晶振
三、探针结构，接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程塑...

一、产品用途:老化座、测试座，对2520(2.5*2.0)的ic芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 2520(2.5*2.0)-4pin晶振
三、探针结构，接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程...

产品数据：
1、应用pitch：0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料：fp4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封装：bga/qfp/qfn/wscp等
4、结构：双扣、翻...

无需客户lay板，直接采用客户提供的产品板，验证准确，最高主频率可以5ghz；
socket只要四颗螺丝便可拆下，探针可以跟换，维护简单方便；
白色限位框，可以更换，适用于任何尺寸...

bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形...

产品数据:
1、材料：pei
2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3ghz
4、结构：open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°c～175°c<...

产品数据:
1、材料：pei
2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3ghz
4、结构：open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°c～175°c<...

产品数据: 1、材料：pei 2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3ghz 4、结构：open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°c～175°c 探针接触细节 更多