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emmc153/169 emcp162/186 emcp221 转usb接口 测试座 三合一套装
产品
用途:编程座、测试座,对emmc153/169 emcp221 emcp162/186 的ic芯片进行测试、读写
测试方法:
1.选择和ic匹配的限位框,把ic按方向平放...
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emmc153/169翻盖弹片转usb芯片测试座
产品
用途:编程座、测试座,对emmc153/169的ic芯片进行测试、读写
测试方法
1.选择和ic匹配的限位框,把ic按方向平放入socket内
2.把usb线...
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emcp221翻盖弹片转sd芯片测试座
1. 采用弹片翻盖转sd接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容221pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容ic厚度0.8-1....
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sm2256主控 bga152转dip48一拖二测试座
产品
用途:编程座、测试座,对bga152的ic芯片进行测试、读取数据
适用封装:bga152、bga132 引脚间距1.0mm
测试座:bga152/132-1.0
特点:无需焊接,节约成本
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emmc153/169翻盖弹片转sd接口芯片测试座
1. 采用翻盖弹片转sd接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153pin和169pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可...
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鸿怡 lpddr168芯片测试座
1 无需客户lay板,直接采用客户提供的
产品
板,验证准确,最高主频率可以5ghz;
2 socket只要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换,维护简单方便;
3 白色限位框,可以更换,适用...
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鸿怡 iphone5/5c/5s ipad1/2/3硬盘测试座
1 结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便;
2 采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
3 高精度的定位槽或导向孔,保证ic定位精确,生产效率高;
4 专利设计,保证连...
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鸿怡 connector摄像头模组测试座
1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证ic定位精确,测试效率高;
4 测试频率可达9.3ghz;
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鸿怡 qfn32芯片测试座
1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证ic定位精确,测试准确率高;
4 采用浮板结构,对于...
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[大电流弹片微针模组]3c锂电池连接器大电流弹片微针模组
2019年07月25日 17:29
当前,锂电池
产品
测试的难点在于电流大(充放电过流保护测试项目要求过4.5-40a这个范围),传统的探针测试治具里探针可过电流至多只能达2a,所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在由我司新研发的大电流弹片微针模组就可以很好的解决这方面的问题,电池过流检测时可以过电流最高达50a,大力帮助工厂提高测试速度的同时,测试设备寿命更长,不损伤电池btb连接器,电池成品良率也会更上一层楼。
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[新闻中心]bga156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试!
2023年02月09日 15:27
bga老化测试座、bga测试座、bga烧录座、bga测试socket 芯片测试 bga156pin芯片老化座规格参数: 测试芯片封装类型:bga 测试芯片引脚:156pin 测试芯片引脚间距:0.5mm 芯片尺寸:16×20mm bga芯片老化测试座 bga芯片老化测试要求: 测试频率:小于200mhz 测试温度:-40~ 155 老化测试时长:5000小时 测试电流:300ma 老化座材料:塑胶 老化座结构:翻盖式 bga156pin芯片老化测试座
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新闻
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定制测试座
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产品
[鸿怡动态]qfn测试座是什么?qfn测试座该如何选型?-鸿怡电子hmilu
2022年10月24日 10:58
qfn测试座是什么?qfn测试座该如何选型?-鸿怡电子hmilu 在芯片封测行业市场上,qfn封装芯片有3种测试,测试、烧录、老化,即对应qfn测试座、qfn烧录座、qfn老化座。 hmilu案列: qfn探针测试座 特点: 芯片引脚:64pin 芯片引脚间距:0.5mm 芯片尺寸:9×9mm 采用合金材料旋钮方式,无缝隙压合 qfn封装具有良好的热性能,qfn封装底部有一个大面积的散热焊盘,可以用来传递封装芯片工作产生的热量,从而有效地将热量从芯片传递到芯
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qfn系列
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qfn烧录座
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qfn老化座
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产品
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新闻
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定制ic测试架
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定制测试座
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定制测试治具
[新闻中心]pdfn/toll/to等封装的大功率半导体器件mos场效应管如何进行老化测试
2022年03月17日 10:18
功率器件及第三代半导体是当前的半导体产业技术追逐的热点,也是国内半导体产业中最有希望能够赶超世界先进技术的领域之一。 现在众多国产功率半导体厂商已经在材料、设计、制造、封测等各个环节成功突围,逐渐形成自主可控的完整产业链。但是在产业最上游的高端封装设备领域,却仍以国外企业为主导,为加速推动功率半导体高端封装,制造设备国产化进程已经刻不容缓。 伴随着功率半导体时代到来,clip bond封装工艺在此可以说是大有作为,相对数字集成电路而言,功率半导体并不是单纯追求线宽的缩小,且生
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pdfn封装测试座
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toll封装测试座
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mos场效应管老化测试
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产品
[鸿怡动态]鸿怡电子第四代flash芯片bga152/132测试座全新上市
2022年03月02日 09:41
2022新年伊始,flash芯片市场异常火爆,缺芯短芯现象仍在上演。flash芯片测试座的需求也越来越多,为了迎合市场,给客户带来更低成本,性价比更好的
产品
。鸿怡电子的研发设计团队不断精溢求精。设计出了新一代的bga152翻盖探针测试座,新款的
产品
经过改良,在结构性能上也优于旧款。
产品
经过全新设计,相比上一代
产品
更有稳定性,操作更方便,效率更高。 1.机械测试寿命10万次,相比同类
产品
具有更高的使用寿命,保修时间一年半。 2.支持有球/无球同测,使用温度-40℃~
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[新闻中心]emmc存储芯片测试基础知识
2022年02月22日 17:29
emmc存储芯片被广泛地应用在手机、平板电脑、gps终端、电子书和其他应用微处理器的消费电子设备和工业物联网设备中。在将emmc芯片集成到电路设计中时经常会出现各种问题。信号的一致性测试可以帮助用户调试emmc存储接口的信号完整性问题。本文整理归纳有关嵌入式多媒体卡emmc芯片基础知识及emmc信号完整性测量案例。 一、emmc基础知识: 接口名称:emmc 英文全称:embedded multimediacard 中文:嵌入式多媒体卡 标准维护和制定:jedec mul
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定制测试座
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定制ic测试架
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产品
[根栏目]定制sop8-1.27-11.5×7.5测试座
2021年10月25日 17:19
工厂介绍 鸿怡电子生产定制sop8-1.27-11.5×7.5测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。
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产品
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qfn系列
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dfn8
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车规芯片老化测试座
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wson8
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qfn烧录座
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qfn老化座
[鸿怡动态]下压式ic老化座_np506-020-045-sc-g_qfn20-0.4芯片测试座
2021年10月18日 14:42
工厂介绍 鸿怡电子生产下压式ic老化座_np506-020-045-sc-g_qfn20-0.4芯片测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。
产品
简介
产品
用途:编程座、测试座,对qfn20的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn20 引脚间距0.4mm测试座:qfn20-0.4特点:采用u型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:qfn-20-0.4引脚
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产品
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qfn系列
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dfn8
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车规芯片老化测试座
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qfn烧录座
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qfn老化座
[鸿怡动态]qfn28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_qfn芯片老化座
2021年10月18日 11:35
工厂介绍 鸿怡电子生产qfn28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_qfn芯片老化座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。
产品
简介
产品
用途:编程座、测试座,对qfn28的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn28引脚间距0.4mm测试座:qfn28-0.4特点:采用u型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:qfn-28-0.4引脚间距(mm):0.4脚位
阅读(57)
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qfn系列
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qfn老化座
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qfn烧录座
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车规芯片老化测试座
[鸿怡动态]qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座
2021年10月18日 11:10
工厂介绍 鸿怡电子生产qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。 老化测试座qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座编程座烧录夹具插座适配封装:qfn封装-16pin间距:0.5mm尺寸:3*3mm
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车规芯片老化测试座
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[鸿怡动态]qfn56-0.4芯片测试座_下压老化座_np506-056-006-sc-g编程座
2021年10月13日 11:16
工厂介绍 鸿怡电子生产qfn56-0.4芯片测试座_下压老化座_np506-056-006-sc-g编程座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等
产品
简介
产品
用途:编程座、测试座,对qfn56的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn56引脚间距0.4mm测试座:qfn56-0.4特点:采用u型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:qfn-56-0.4引脚间距
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