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定制plcc52\lcc52翻盖
探针测试座
老化夹具治具测试socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定,盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
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定制smd-4pin贴片翻盖
探针测试座
老化座socket晶振
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:pei;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:pei;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越大;
...
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定制qfn73-0.5-7×7×0.85翻盖
探针测试座
老化座烧录座夹具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保ic定位精确;?
探针可更换,维修方便,成本低;?
keep工程绝缘材料制作;?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
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定制qfn16-0.5双扣旋钮手自一体式
探针测试座
夹具ate socket
产品特点:采用双扣旋钮式结构,适用于人工手动操作以及自动化设备测试烧录。
接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
核心部件材质:peek陶瓷;
额定电流:1a;
操作压力:30g、pin越多压力越大...
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定制bga60-0.8(8×9mm)合金翻盖
探针测试座
flash读写烧录座
socket性能参数:
工作频率:1666mhz;
工作温度:-55℃~155℃;
单pin电流:1a;
接触阻抗:≤100mω
材质:peek、al
接触材质:镀金探针
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定制qfp144-0.4(16×16)合金翻盖旋钮
探针测试座
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lga14pin翻盖合金
探针测试座
lga14pin测试座规格
芯片封装类型:lga
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3mm
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定制lcc44-1.1(16×18mm)合金翻盖
探针测试座
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定制bga252-0.8_12×18合金翻盖旋钮
探针测试座
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定制lcc76模块-0.9(20×20mm)合金翻盖
探针测试座
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定制lga36pin(只下针7个pin)_0.5_4×4合金翻盖
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定制bga814-0.5-15x15x0.862合金翻盖旋钮
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定制lcc8-1.27_3.8×3.8翻盖合金
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定制dfn4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶
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定制qfn88-0.4(10×10)翻盖合金
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dfn38-0.8_13×13合金翻盖
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定制邮票孔144pin(实际下针78pin)-1.27_50x50x1.03合金翻盖旋钮
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dfn8-0.5(1×2)合金翻盖
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qfn10-0.5_2×3合金下压
探针测试座
带板
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定制sot89-3l(间距1.5mm本体尺寸4.5×2.5mm)手自一体式
探针测试座
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