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» » 搜索:测试座
定制 qfp208 测试治具 测试架 工装夹具治具 qfp208
测试座
产品简介:
需求:利用现有的产品作为测试主板,再该pcb上面固定socket来实现免焊接测试ic
设计理念:根据客户提供的pcbgerber文件及实物来设计定位销固定孔,盖板开槽避开高原器件
socket:采用合金...
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定制sop8-1.27合金旋钮双扣
测试座
(标准的小八脚)
产品名称:定制sop8非标手自一体式探针测试socket
适配尺寸:适用封装sop,8脚,间距1.27mm 本体宽3.9mm
产品介绍:手自一体的探针式结构,可用于自动机台的ate测试
性能参数:频率1.5ghz, 电流小于...
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ufs153-0.5_11.5×13翻盖转usb3.0
测试座
(sm3350m主控)
产品名称:三星ufs2.0芯片
测试座
引脚数:153/169ball
间距:0.5
封装类型bga
支持emmc 5.0及以上;支持ufs 2.1版本;usb3.0,支持热插拔;emmc, emcp和ufs数据的快速读...
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定制plcc52\lcc52翻盖探针
测试座
老化夹具治具测试socket
测试座
(夹具)特点:
①
测试座
设计翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定,盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②
测试...
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定制smd-4pin贴片翻盖探针
测试座
老化座socket晶振
测试座
(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:pei;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:pei;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:3...
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定制qfn73-0.5-7×7×0.85翻盖探针
测试座
老化座烧录座夹具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保ic定位精确;?
探针可更换,维修方便,成本低;?
keep工程绝缘材料制作;?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
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定制qfn16-0.5双扣旋钮手自一体式探针
测试座
夹具ate socket
产品特点:采用双扣旋钮式结构,适用于人工手动操作以及自动化设备测试烧录。
接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
核心部件材质:peek陶瓷;
额定电流:1a;
操作压力:30g、pin越多压力越大...
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定制陶瓷封装cqfp48合金翻盖探针pogopin
测试座
夹具治具socket
产品简介:cqfp陶瓷封装非标产品测试,市面目前并没有完全适配的测试socket,因此需要通过cnc精加工的方式采用pogopin。
测试座
(夹具)特性:
①结构:翻盖式;
②外壳材质...
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定制bga60-0.8(8×9mm)合金翻盖探针
测试座
flash读写烧录座
socket性能参数:
工作频率:1666mhz;
工作温度:-55℃~155℃;
单pin电流:1a;
接触阻抗:≤100mω
材质:peek、al
接触材质:镀金探针
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tqfp\lqfp\qfp100-0.5翻盖弹片老化座
材料&特性:
socket本体:pei\lcp
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5kg min ,pin越多压力越大
绝缘阻抗:1,000mω500vdc
最大电流:2a
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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qfp\tqfp\lqfp64-0.5翻盖弹片老化座
测试座
夹具socket
材料&特性:
socket本体:pei\lcp
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5kg min ,pin越多压力越大
绝缘阻抗:1,000mω500vdc
最大电流:2a
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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lqfp\tqfp\qfp48-0.5翻盖弹片老化座夹具治具测试工装socket
材料&特性:
socket本体:pei\lcp
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5kg min ,pin越多压力越大
绝缘阻抗:1,000mω500vdc
最大电流:2a
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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plcc\lcc24翻盖高低温老化座夹具0.5pitch
材料&特性:
socket本体:pei\lcp
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5kg min ,pin越多压力越大
绝缘阻抗:1,000mω500vdc
最大电流:2a
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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定制qfn10pin一拖四翻盖式探针老化座夹具
测试座
socket(3.2×2.5)
测试座
(夹具)特性
①结构:1拖4多工位翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;<...
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定制qfn64-0.5(9.5×8)翻盖塑胶探针老化座
产品简介 适配芯片尺寸:qfn64封装,间距0.5mm
老化座用途:对qfn64的芯片进行老化、测试、烧录
①结构:翻盖式;
②外壳材质:塑胶;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件...
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lga14pin翻盖合金探针
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lga14pin
测试座
规格
芯片封装类型:lga
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3mm
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定制lcc44-1.1(16×18mm)合金翻盖探针
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