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老化
座qfn56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制
本款ic测试座适配qfn封装 56pin 0.5mm间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片,通孔焊接结构,适合批量烧录、
老化
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老化
座芯片镀金编程座ic549-0604适配器
1、型号:qfn-80-0.4
2、引脚间距(mm):0.4
3、脚位:80
4、芯片尺寸:9*9
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老化
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老化
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【0.5间距/不带板】
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插座球形引脚间距0.8mm ddr dimm dram,用于ddr厂商测试ddr nand芯片
老化
座材料:pei;
额定电流:1a
接触电阻:30m oh max.at 10ma和20mv max ...
测试寿命:15000次
引脚间距:0.8mm
工作温度:-55?175度
部件号:ddr3-0.8 ...
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5032-2pin贴片晶振测试座
一、产品用途:
老化
座、测试座,对5032(5.0*3.2)的ic芯片进行高低温
老化
测试
二、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2pin晶振
三、探针结构,接触稳定、体积小。...
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2520-4pin贴片晶振测试座
一、产品用途:
老化
座、测试座,对2520(2.5*2.0)的ic芯片进行高低温
老化
测试
二、适用封装: 2520(2.5*2.0)-4pin晶振
三、探针结构,接触稳定、体积小。...
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qfp48-0.5
老化
座端子板 电木转接板
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老化
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客制bga52-0.5(5*6)合金顶窗探针测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片
老化
测试座;
本款
老化
座,适配bga52脚,间距0.5,尺寸5*6mm的芯片;
接触稳定,测试寿命长,品质保证; <...
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bga115-0.8(12x18)下压探针
老化
座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片
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测试座; 本款
老化
座,适配bga115脚,间距0.8,尺寸12*18mm的芯片; 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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bga97-0.8(9x9mm)下压探针
老化
座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片
老化
测试座; 本款
老化
座,适配bga97脚,间距0.8,尺寸9*9mm的芯片; 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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定制qfp128-0.4(14×14)合金旋钮芯片测试座
工厂直销,qfp44-0.8合金翻盖测试座;
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的ic测试座;
欢迎来图,来电咨询洽谈;
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bga153翻盖旋钮合金测试座
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bga152合金翻盖旋钮芯片测试座
※采用手动旋钮翻盖式结构,操作方便;
※上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
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bga96-0.8(9.5x11mm)下压探针
老化
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工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片
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座,适配bga87脚,间距0.8,尺寸7*10mm的芯片;
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