qfn18封装cs5755sdq半桥ipm功率模块老化座夹具测试座socket-九游会平台

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qfn18封装cs5755sdq半桥ipm功率模块老化座夹具测试座socket详细信息/detailed information

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qfn18封装cs5755sdq半桥ipm功率模块老化座夹具测试座socket

1、产品简介：对qfn7x7-18l封装的的ipm功率ic进行老化测试。
2、适配ic封装规格：qfn18pin，最小pitch0.65mm，尺寸7x7x0.75。
3、性能要求：-55℃~155℃持续老化测试。
4、老化测试座技术指标：
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：fr4；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mω；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；

订购热线：13631538587

1、产品简介：对qfn7x7-18l封装的的ipm功率ic进行老化测试。

2、适配ic封装规格：qfn18pin，最小pitch0.65mm，尺寸7x7x0.75。

3、性能要求：-55℃~155℃持续老化测试。

4、老化测试座技术指标：

①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：fr4；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mω；
⑧环境温度：-55℃~155℃；

⑨机械寿命：100000；

5、适配ic封装规格图

qfn7x7-18l封装

6、产品实拍图：

qfn18老化夹具

qfn18老炼夹具

ipm功率模块测试socket

mos管老化座

ipm功率模块老化夹具

cs5755sdq测试座

qfn7x7-18l测试座

cs5755sdq老化座

qfn7x7-18l老化座

qfn18封装 cs5755sdq 半桥ipm功率模块老化座夹具测试座 socket

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特点：采用开模注塑外壳，核心部分通过cnc加工的方式定制各种非标老化测试座。
老化座适配芯片尺寸：6*8mm
老化座外形尺寸：12*18mm
老化座材质：pei 镀镍金探针
耐温范围：-40℃~125℃，相对湿度小于85%
机械寿命：10w
老化寿命：2000h