全站搜索 -九游会平台

材料&特性：
socket本体：pei\lcp
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5kg min ，pin越多压力越大
绝缘阻抗：1,000mω500vdc
最大电流：2a
使用温度：-55℃~155℃@3000小...

测试座特点
测试座（夹具）特性
①结构：翻盖旋钮式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力...

socket性能参数：
工作频率：1666mhz；
工作温度：-55℃~155℃；
单pin电流：1a；
接触阻抗：≤100mω
材质：peek、al
接触材质：镀金探针

一、产品用途:bga152/132探针测试座，对bga152/bga132的芯片进行测试
二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm
三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0
四、有球无球兼容测试，测试稳定

ssd 2合1 sm2246en测试板bga152 / 132/100/88 tsop48 nand闪存测试闪存
sm2246en sm2256k sm2258h ssd九游会平台的解决方案

工厂新品热销，量大价优！ 全新设计，采用探针结构，测试座寿命和芯片良率大大提高;

工厂直销店铺 ， 质优价廉 欢迎采购！
翻盖弹片老化座，emcp162/186 翻盖弹片老化座，大量现货当天发！
【适配ic常见规格尺寸：11.5*13mm、12*16mm，0.5mm间距；】

大小硬盘通用座,改硬盘sn好帮手
采用单排线设计，性能稳定,抗干扰性能好。
翻盖弹片式活动座，寿命高达十万次。
直接焊接在（iphone4）4代主板上就可以使用。

bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...

bga272翻盖探针测试座安国主控u盘测试夹具flash测试座接受定制

lga60下压弹片测试座 lga60芯片 烧录座
间距1.0mm 60pin
常见规格尺寸：14×18

产品特点：可以测试各类封装的flash bga100 /132/152 /tsop48/lga等的双面弹测试座都可以随意更换

bga272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了flash行 业研发的低成本九游会平台的解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进 口铍...

lga52下压弹片转dip48测试座 lga52烧录座转tsop48编程座 测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸

※ 采用标准sd接口模式，通过读卡器与电脑连接或通过编程器sd接口连接实现测试或烧录等相应操作；
※ 兼容有球无球测试，ic限位框采用模具一体成型，可根据ic选择不同大小限位框进行更换，实现不同;

深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn/qfp、ic的burn-in socket和test socket

安卓手机数据恢复测试盒
emmc 153/169 nada flash芯片测试盒

ssd闪存测试夹具，sm2258h主控，bga152/132一拖四测试治具。一块测试板 四个bga152测试座。（测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换）

bga152/132/88翻盖弹片老化座 ssd nand flash芯片测试座 转dip48
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉！ 翻盖弹片测试座，bga152-1.0翻盖弹片测试座，大量现货当天发！ 【翻盖/带转dip48板】

bga152转dip96 翻盖 测试座 bga132芯片测试座 单颗8ce闪存测试 工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉！ 翻盖弹片测试座，bga152-1.0翻盖弹片转dip96测试座，大量现货当天发！ 【翻盖/带板】