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» » 搜索:ic测试座
qfn28-0.5翻盖弹片ic老化座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn28的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn28引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn28-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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qfn28翻盖弹片双层板ic测试座
qfn28-0.5翻盖弹片ic烧录座
双层转板,适配艾科、南京希尔特、周立功等品牌编程器
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qfn28翻盖弹片单层板ic测试座
产品用途:编程座、测试座,对qfn28的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn28
引脚间距:0.5mm
测 试 座:qfn28-0.5
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
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qfn24-0.5 双层板芯片测试座
产品用途:编程座、测试座,对qfn24的ic芯片进行烧写、测试 适用封装:qfn24引脚间距0.5mm 测 试 座:qfn24-0.5 特 点:采用u型顶针,接触更稳定
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qfn20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn20的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn20,mlp20,mlf20 引脚间距0.5mm
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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qfp100下压弹片ic烧录座
产品用途:编程座、测试座,对qfp100的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfp100引脚间距0.5mm
测 试 座:qfp100-0.5烧录座
特 点:在两侧分别引出所有io口,方便用户整理插线
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qfp80下压弹片ic测试座
产品用途:编程座、测试座,对qfp80的ic芯片进行烧写、测试 适用封装:qfp80引脚间距0.5mm 测 试 座:qfp80-0.5烧录座 特 点:底部引出引脚为不规则排列
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qfp44下压弹片双层板芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对qfp44的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfp44引脚间距0.8mm
测试座:qfp4-0.8烧录座
特点:底部引出引脚为不规则排列
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emmc153/169下压弹片转usb接口芯片测试座
1. 采用弹片下压转sd接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153pin和169pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容ic厚...
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emcp162/186下压弹片转usb接口ic测试座
1. 采用弹片下压转usb接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162pin和186pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容ic厚...
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emmc153/169翻盖弹片转sd接口芯片测试座
1. 采用翻盖弹片转sd接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153pin和169pin.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可...
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[新闻中心]ic测试socket厂家排名
2023年01月31日 14:31
ic测试座(ic socket)在2000年以前,芯片封装测试硬件(ic老化座、ic烧录座、ic测试座以及非标的加工定制测试座、开模定制测试座,还有芯片测试夹具、芯片测试架、芯片测试治具等)一直被国外的厂商所垄断,进口价格非常昂贵且没有售后可言。 国外主要两家品牌公司: 1、恩普乐斯(enplas):日本企业,主要以工程塑料的精密加工,涉及半导体、生命科学、光电转换等等行业 2、山一电子(yamaichi):日本企业,主要以连接器测试九游会平台的解决方案、半导体测试产品九游会平台的解决方案等等行业
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[新闻中心]浅聊芯片老化测试、芯片烧录,ic测试以及对应的座子定义!
2022年11月30日 11:40
鸿怡电子ic老化座/老炼座/老化测试socket
ic烧录座/编程座/快速夹/读写座/清空座
ic测试座/测试座socket/测试插座
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晶振老化座
[鸿怡动态]7050(7.0×5.0mm)-4pin晶振探针老化座
2022年11月21日 10:41
晶振老化座简介 一、用途:老化座、测试座,对7050(7.0*5.0)的ic芯片进行高低温老化测试 二、适用封装: 7050(7.0*5.0)-4pin贴片晶振 三、探针结构,接触稳定、体积小。 四、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 五、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度,使用寿命(翻盖结构20000次) 六、鸿怡电子可提供规格书(布板图)资料,pdf档\cad档 规格尺寸 一、型号:7050(7.0*5.0)-4pin 二、脚位:4 三、芯片尺寸:7
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[鸿怡动态]芯片测试中,我们需要了解之频率、速率的关键参数
2022年11月11日 15:07
如何保证芯片在测试板上完成完整的功能测试,就需要测试座从芯片引脚到测试板的信号、电流、频率等不会受到干扰以及传输衰减。下面和大家说下几个重要的关键词,1、频率,比特率,mt/s,首先介绍下这些关键词 ,频率是单位时间内信号上下沿运动的次数,比特率是指每秒传送的bit数,单位是bps,即bit per secondt/s是指次数/s 即每秒次数的数据传输也就是单位之间内的传输速率,频率与比特率有如下关系频率一般出现在芯片的时钟部分,按照通常的情况,一个时钟信号过去,即波形中显示
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[鸿怡动态]ic测试治具,帮您快速简单的进行ic测试
2022年11月09日 17:47
当工程师们需要对芯片进行测试的时候,没有测试软件,又没有测试方法?那么如何快速简单地完成功能测试呢? 现在,就由鸿怡电子教大家一招——借助ic测试治具的方式能帮您很好地解决这个问题。 关于定制的ic测试夹具,它基于您现成的测试主板来实现的。当您有一款芯片需要测试并确认其功能是否良好,或者说在某个主板上是否测试这款芯片是否匹配这个主板的功能。这样的话,您可以通过选择一个主板(通用类主板或者公版主板)去制作ic测试治具。 从上图中,ic测试座的结构可
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[鸿怡动态]鸿怡小编教您如何更直观的了解ic测试座?
2022年10月18日 15:33
1 2022/10 喜迎二十大 我们都对新鲜事物充满了好奇,直到我们真正了解它。 每当朋友问:嘿,老朋友,你在做什么? 我笑着回答:ic测试座。 朋友 :..................... 犹豫了几秒钟后,回答:那是什么? 所以,我想了很久,还是这里和大家解释,毕竟我们鸿怡电子的网站相关搜索也是很详细的 通常大家对芯片测试座最简单的理解是芯片引脚的延伸。现在,有些机智的朋友可能会问,为什么它是一个延伸? 首先
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[鸿怡动态]老化测试座“气孔”的用途
2022年08月19日 15:21
老化座“气孔”/ 近期,鸿怡电子的客户会发现,在拿到我们的探针老化座时,会发现老化座的限位槽四周会有四个小小的通孔。那么,这四个通孔是什么孔呢?起到什么作用?不少客户会有此疑问。 以下图这一款bga77的老化测试座为例,这是一款dc的电源芯片测试座,在老化测试过程 中需要过较高的电流。同时由于温度设置,此时芯片内部的温度会达到峰值。为了更好的增加散热效果,我们的设计师,在限位槽四周设计了四个小小的气孔,辅助芯片进行散热
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[鸿怡动态]鸿怡电子优质案例分析dc/dc电源芯片 bga77封装测试座
2022年08月18日 11:49
news bga封装77ball是近期比较常见的一款特殊的电源芯片,它的功能是dc/dc供电功能,一共4路输出,每路连续电流输出dc 4a,输出峰值5a。 其功能为dc转dc时,将4v至14v的电压转换为0.6v~5.5v的电压,释放出更高的电流和热量,其功耗高达5.5w。 芯片尺寸为9*15*5.01mm,间距为1.27mm。 上面对芯片性能要求进行了明确的介绍,也为芯片测试座的设计提供了一个很好的思路和相应的指导方案。 同时,根据上述芯片的性能要求,还需要了解芯片多通道
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[鸿怡动态]芯片工程师看过来,为你总结ic老化测试中需要关注的九个点
2022年07月25日 16:25
芯片的老化对于芯片测试来说是至关重要的,但是有哪些需要注意的地方呢? 根据以往的经验,我们总结了9个需要关注的问题点,在这篇文章中,我们来聊聊。dft工程师可以根据这9点来思考和优化你的芯片老化测试方案: 1. 我们应该走多远才能通过老龄化减少过早死亡? bi(burn-in) / elfr(early life failure rate):通过bi方法-dppm(defect parts per-million)评估早死阶段的失效率或降低出货的早死率。 老化要注意的要
阅读(131)
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