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: bga152/132翻盖探针老化座

一、产品用途:bga152/132探针测试座，对bga152/bga132的芯片进行测试
二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm
三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0
四、有球无球兼容测试，测试稳定
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: bga63-0.8翻盖探针转48测试座bga63-0.8烧录座u盘转dip48

bga63翻盖探针转dip48测试座
bga63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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: 苹果lga60翻盖探针带排线硬盘测试座

大小硬盘通用座,改硬盘sn好帮手
采用单排线设计，性能稳定,抗干扰性能好。
翻盖弹片式活动座，寿命高达十万次。
直接焊接在（iphone4）4代主板上就可以使用。
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: emmc153/169 u盘探针测试夹具

emmc u盘探针测试夹具
emmc153/169测试座
emmc socket编程烧录座
探针材料，可更换维修，限位框可更换适用不同尺寸的ic
常见ic尺寸有：11.5*13,12*16,12*18,14*18
可定制bga132/152/153...
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: lga52-1.0下压弹片转dip48芯片测试座

lga52下压弹片转dip48测试座 lga52烧录座转tsop48编程座测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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: bga100翻盖弹片转dip48测试座 flash芯片测试座

深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn/qfp、ic的burn-in socket和test socket
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: tf24翻盖探针转dip48芯片测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；产品通用程度高，只要换限位框，即可测试所有引脚相同，外形尺寸不同的sd卡；上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证sd卡的压力均匀，不移位；高精度的定位槽，保证sd卡定位精...
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: bga316翻盖探针u盘测试夹具

工厂直销欢迎批发质优价廉！翻盖探针测试座， bga316翻盖探针测试夹具，大量现货当天发！【翻盖探针/转usb接口】
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: sm2246主控ssd一拖四nand flash万能测试板

现在ssd固态硬盘与u盘3.0市场bga132/152的芯片使用量越来越大，固态硬盘的容量与速度越来越大，8ce的flash也在各大厂家使用越来越多了，我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利，开发了一款多功能固态硬盘测试板。
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: emcp221合金翻盖探针转sd接口ic测试座

emcp221 翻盖合金探针转sd接口测试座我司致力于emcp221 fbga221测试九游会平台的解决方案欢迎厂家、芯片封装厂来电咨询、合作用起来像u盘一样简单！
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[鸿怡动态]bga63下压弹片老化座_u盘芯片测试座_bga63-0.8测试座2021年09月22日 15:22: 工厂介绍鸿怡电子生产bga63下压弹片老化座_u盘芯片测试座_bga63-0.8测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（20）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]u盘、ssd存储芯片bga152/bga132flash盘料自动测试机分选机震撼上市2020年06月13日 11:31: 在固态硬盘的生产过程中，往往需要要经过（nt）闪存测试、（evt）工程验证测试/(dvt)设计验证测试、(rdt)可靠性测试、(htt）高温测试等等重要测试。这些测试能够有效的保证固态硬盘的最终性能和质量。但是由于这些测试相当复杂，需要价格不菲的先进的自动化测试设备，因此国内许多固态硬盘制造厂商都没有实现闪存测试和固态硬盘成品测试的自动化。在闪存测试方面，传统的人工测试存在一些问题：测试效率低下，浪费大量人力成本；有局限性，测试良率低，只测试闪存读写功能；透明度低，只能用flash芯片厂家提供的测试软件。但是，先进的flash自动化测试设备价格非常昂贵，动辄上千万，而且在国外还不愿意卖给国内企业。因此，深圳市鸿怡电子有限公司经过不懈的努力，于2017年成功研发出了第一代flash整盘测试机台，立志打造flash芯片及其pcba的无人化制造工厂！; 阅读（146）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子emmc测试座的特点及功能介绍2019年04月16日 14:02: emmc测试座适用于平板电脑，手机，ssd，u盘等产品上。 a、可直接插sd卡或是通过usb连接电脑，支持热拔插; b、兼容芯片型号有：thgbm1g6d4eba14、klm2g1dedd-a101、sdin4c2-4g等;并兼容不同容量1g/2g/4g/8g...... c、emmc测试治具，在客户现有的pcba板上通过定位装上emmc测试座,导电体采用进口pogopin，性能稳定、测试座测试寿命可达10万次以上，是弹片座子的寿命的5倍以上;并探针可更换，维修方便，成本低;; 阅读（83）标签：

[鸿怡动态]用于ssd固态硬盘芯片的开卡测试方案板2018年11月05日 17:43: 为大家介绍几款用于ssd固态硬盘/u盘板芯片开卡量产测试的方案板和flash ic测试座 ssd nand闪存sm2256k主控测试九游会平台的解决方案适用于bga152 132 100 88 lga60 tsop48 96闪存4合1多个pcb板该测试板采用sm2256k主控，可支持bga152 / 132/100/88 / lga60，tsop84与dip48（4ce测试）和dip96（8ce测试）等多个封装闪存芯片测试，测试座可自由互换。a）为了测试tsop48封装的闪存，我们可以同; 阅读（278）标签：

[行业资讯]展望新的一年ic测试治具的发展趋势2018年10月26日 16:52: ic测试治具在市场上的发展趋势是怎样的呢？下面我们一起来了解一下。 ic测试是整个ic设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，采用各类专业的ic burn-in/test socket、测试治具等工具可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。在今年的iic展上，鸿怡电子向客户重点展示的是emmc测试治具、基于u盘flash万能通用测试架，以及内存/显存芯片测试治具、ddr内存条测试治具、用于fpc的btb测试座等，通过专业化设计，帮助厂商提升测试的精确度，节约更高的; 阅读（118）标签：

[行业资讯]ssd市场分析概况2017年04月25日 14:49: 我司专业生产的ssd\u盘 flash测试治具如 bga152/132测试座,tsop48系列测试座都正火爆出货中; 阅读（81）标签：

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