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sot23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座
工厂介绍 鸿怡电子生产
定制
sot23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。
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bga封装有球测试治具cpu测试架测试夹具探针座ic功能检测socket
客户提供测试主板
夹具ic卡座采用翻盖式旋钮结构,下压平稳受力均匀接触稳定;
使用爪头探针,尖头头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保ic定位精确;
采用浮板结构有...
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fp-14封装器件光耦通信讯高能光纤激光器光子探测工装测试座
定制
测试夹具治具大功率散热设计
结构:快捷稳定(采用翻盖旋钮下压式);
电流:单个引脚需要过3a电流(每个引脚采用双跟探针链接,保证4a的过流能力);
频率:无要求(无要求使用普通低俗双头测试探针);
温度:常温(外壳使用铝...
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ic检测治具pogo pin测试座 集成模块测试架 模块烧录夹具 测试座
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图
定制
适用场景: 测试,烧录,老化
封装方式: 邮票孔
引脚间距: 1.27mm
总尺寸 (含引脚): 25x20x1mm
主体尺...
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定制
烧录测试座 qfn28测试夹具 qfn28老化测试座 qfn28烧录座0.4
型号: qfn28-0.4
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图
定制
适用场景: 烧录,编程,老化,测试
封装方式: qfn
引脚间距: 0.4mm
总尺寸 (含引脚)...
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sdm表面贴装器件测试治具 smd-4pin测试座
封装:smd封装-4pin
结构:翻盖式
来图
定制
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lfbga144测试夹具lfbga-144测试治具bga144测试座lfbga-144测试座
型号: bga144-0.8-10*10
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图
定制
适用场景: 测试,烧录,老化
封装方式: bga
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚...
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gddr测试治具
gddr测试治具可适用于gddr显存颗粒的测试,筛选
最高可支持10ghz或更高频率的gddr颗粒
优良的冷却系统,使得使得测试稳定性和可靠性高
可同时测试多颗gddr显存芯片,效率高
根据客户的主板进行<...
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邮票孔模块测试治具 模块测试架
定制
测试座 集成模块测试治具
产品特点及性能参数:
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保i...
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定制
bga256-0.8芯片老化座 测试座
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sop88-1.27双扣旋钮测试座 芯片老化座 测试治具
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型号: bga80-1.0合金翻盖探针测试座
适用场景: 测试 烧录 编程 老化
封装方式: bga
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测试座类型: 翻盖式
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qfn32-0.5芯片测试翻盖弹片老化座
材料&特性:
socket本体:pei
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5kg min ,pin越多压力越大
绝缘阻抗:1,000mω,500vdc
最大电流:2a
使用温度:-55℃~175℃@3000小时...
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定制
clcc44-1.27测试座 合金翻盖探针老化座编程座 ic座
适用封装芯片为:clcc44pin 间距为1.27mm 尺寸:16.5*16.5m
根据客户需求,上盖和底盖均需要做避空处理
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三星ufs2.1芯片测试治具 三星手机测试架
可根据客户需求
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各类ufs测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它pcba板上,直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于odm/半导体fae部门的i...
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bcm-bga516芯片测试治具
无需重新lay板,直接在客供的pcb板上装上治具
脚位精准,测试稳定
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