鸿怡电子生产qfn32老化座_4×4间距烧录座_ic socket_qfn32-0.4翻盖测试座，同时还生产其他ic测试夹具治具。
产品简介
a、产品用途:编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行老化、测试
可用于作hotl\hast老化试验
b、适用封装:qfn32引脚间距0.4mm
c、测试座:qfn32-0.4
d、特点:采用u型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10w次
e、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1a max
f、我司可提供规格书（布板图），pdf档\cad
规格尺寸
a、型号:qfn-32-0.4
b、引脚间距(mm):0.4
c、脚位:32
d、芯片尺寸:4*4mm 对应国外型号790-62032-101t
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