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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: qfn12-0.5翻盖弹片ic烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfn的ic芯片进行烧写、测试适用封装：qfn12 引脚间距0.5mm 测试座：qfn12-0.5 特点：采用u型顶针，接触更稳定
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[新闻中心]bga156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试！2023年02月09日 15:27: bga老化测试座、bga测试座、bga烧录座、bga测试socket 芯片测试 bga156pin芯片老化座规格参数：测试芯片封装类型：bga 测试芯片引脚：156pin 测试芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：16×20mm bga芯片老化测试座 bga芯片老化测试要求：测试频率：小于200mhz 测试温度：-40~ 155 老化测试时长：5000小时测试电流：300ma 老化座材料：塑胶老化座结构：翻盖式 bga156pin芯片老化测试座; 阅读（8）标签：新闻|||定制测试座|产品

[新闻中心]plcc48封装光电通信模块测试座案例2023年02月02日 11:20: 目的：光电通信模块测试名称：plcc测试座、clcc测试座 plcc48pin封装芯片测试座规格：芯片封装类型：clcc、plcc 芯片引脚：48pin 芯片引脚间距：1.0mm 芯片尺寸：16.4×16.4mm 芯片厚度：4.0mmclcc封装芯片测试座测试温度：-50~ 100 测试时长：持续1000小时左右测试频率：1mhz 测试速率：单通道速率（3gbps-10gbps）测试电流：500毫安内光电通信模块测试座在鸿怡电子众多hmilu封装芯片测; 阅读（6）标签：新闻|产品|lccc测试座|clcc测试座|定制测试座

[新闻中心]浅聊芯片老化测试、芯片烧录，ic测试以及对应的座子定义！2022年11月30日 11:40: 鸿怡电子ic老化座/老炼座/老化测试socket
ic烧录座/编程座/快速夹/读写座/清空座
ic测试座/测试座socket/测试插座; 阅读（35）标签：产品|新闻||sop烧录座|晶振测试座|定制ic测试架|qfn老化座|qfn系列|clcc测试座|ddr测试夹具|蝶形模块测试座|flash测试座|晶振老化座

[新闻中心]芯片测试座在ic芯片测试中的作用以及三种测试？2022年11月16日 14:41: ic芯片测试座具有操作简单、故障定位准确、方便快捷、测试良率高等特点。简单描述就是一款连接芯片与pcb板的连接器插座； ic芯片测试座主要有3种作用： 1、来料检测：买回来ic使用时，有时会进行质量检验，发现不良产品，然后进行改进smt的良率。ic芯片肉眼看不到质量，需要通电导通测试，常用方法检测ic芯片无法完全判断电流、电压、电感、电阻ic好坏；通过测试座可以详细判断ic应用的功能及跑程序的好坏。 2、维修检测：有时主板在生产过程中出现问题，哪里出了问题？很难判断！ic; 阅读（25）标签：产品|新闻|qfn系列|定制测试座||dfn8|sop测试座|toll封装测试座|lccc测试座|pga|蝶形模块测试座|主控芯片测试座|flash测试座

[鸿怡动态]什么是芯片测试夹具？芯片测试如何选择芯片测试夹具？鸿怡电子！2022年11月01日 11:35: ic芯片测试夹具是在pcb测试基板上设计制作的，用于测试集成电路的电气性能测试的测试夹具，如各种封装的集成电路芯片和电子元件、cpu、模块核心板等。芯片测试夹具根据芯片的封装类型、形状尺寸、间距、pin脚数量；如bga2577芯片需要测试验证：那么我们必须知道芯片封装形式为bga，pin脚数为2577pin，引脚间距为1.0mm、芯片尺寸为52.5×52.5mm，这些参数在芯片规格书中均有体现，芯片测试夹具是根据这些参数来选择合适的测试座合金框架；; 阅读（36）标签：新闻|产品|qfn系列||定制测试座|定制测试治具|晶振测试座|定制ic测试架|bga老化测试座

[鸿怡动态]如何对cis芯片测试与cis芯片测试座介绍2022年10月19日 11:23: cmos图像传感器的固有设备结构特征。每个像素和每个像素都有一个独立的放大器。图像传感器固定模式的噪声会在放大器中产生较小的不匹配或偏差。因此在cmos图像传感器图像传感器之前，需要对图像传感器进行使用cmos校准图像传感器。cmos图像传感器校准光源常用的有白炽灯、卤钨灯、led灯。白炽灯和卤钨灯存在发光效率低、功耗大等诸多问题。与前两者相比，led灯具有节能、环保、寿命长、体积小、功耗小等特点; 阅读（32）标签：cis芯片测试|产品|新闻|||bga老化测试座|定制测试座|定制测试治具

[鸿怡动态]老化测试座“气孔”的用途2022年08月19日 15:21: 老化座“气孔”/ 近期，鸿怡电子的客户会发现，在拿到我们的探针老化座时，会发现老化座的限位槽四周会有四个小小的通孔。那么，这四个通孔是什么孔呢？起到什么作用？不少客户会有此疑问。以下图这一款bga77的老化测试座为例，这是一款dc的电源芯片测试座，在老化测试过程中需要过较高的电流。同时由于温度设置，此时芯片内部的温度会达到峰值。为了更好的增加散热效果，我们的设计师，在限位槽四周设计了四个小小的气孔，辅助芯片进行散热; 阅读（45）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子优质案例分析dc/dc电源芯片 bga77封装测试座2022年08月18日 11:49: news bga封装77ball是近期比较常见的一款特殊的电源芯片，它的功能是dc/dc供电功能，一共4路输出，每路连续电流输出dc 4a，输出峰值5a。其功能为dc转dc时，将4v至14v的电压转换为0.6v~5.5v的电压，释放出更高的电流和热量，其功耗高达5.5w。芯片尺寸为9*15*5.01mm，间距为1.27mm。上面对芯片性能要求进行了明确的介绍，也为芯片测试座的设计提供了一个很好的思路和相应的指导方案。同时，根据上述芯片的性能要求，还需要了解芯片多通道; 阅读（33）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子新品推荐-适用于大阵列的bga老化测试座2022年07月16日 09:44: ? 新品上架 ? 为应对市面上越来越多的大阵列，多球数的bga芯片的老化测试，传统的探针测试座价格往往非常昂贵。以致于客户在考虑成本预算后，不得不另外采用更麻烦但却成本相对简单的方式测试。针对这一痛点，鸿怡电子的工程师，研发了针对大阵列的bga芯片所用的老化、测试座。该产品可以很好的应对各种pitch和尺寸的芯片，并且针对bga芯片功耗高，也有更好的散热作用。 bga测试座，可支持pitch：0.65、0.8、1.27mm等大芯片的老化座、测试座; 阅读（31）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子第四代flash芯片bga152/132测试座全新上市2022年03月02日 09:41: 2022新年伊始，flash芯片市场异常火爆，缺芯短芯现象仍在上演。flash芯片测试座的需求也越来越多，为了迎合市场，给客户带来更低成本，性价比更好的产品。鸿怡电子的研发设计团队不断精溢求精。设计出了新一代的bga152翻盖探针测试座，新款的产品经过改良，在结构性能上也优于旧款。产品经过全新设计，相比上一代产品更有稳定性，操作更方便，效率更高。 1.机械测试寿命10万次，相比同类产品具有更高的使用寿命，保修时间一年半。 2.支持有球/无球同测，使用温度-40℃~; 阅读（84）标签：

[常见问题]ic测试座的清洁和保养2021年10月08日 12:18: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 ic测试座使用一段时间后，针尖会残留一些锡渣或者灰尘，将引起测试不稳定；可以使用防静电刷，蘸上无水酒精，轻轻刷探针去除残留物，有条件可以使用气枪吹socket探针区域，效果更好；（注意：不要使用洗板水，因为洗板水会和探针表面镀金层反应，影响测试稳定性）如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（46）标签：产品|qfn系列|dfn8|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]icsocket关于pcb板的设计2021年10月08日 12:15: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。为了保障pcb板的强度和接触稳定性，建议客户pcb板的厚度1.6mm，焊盘镀金抗氧化性更强，锁螺丝处覆铜；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（49）标签：产品|qfn系列|dfn8|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]产品结构件材料的性能区别2021年10月08日 12:09: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。钻孔板、浮板为socket的核心部件，起到固定探针，导向芯片的作用，测试时经常磨损，所以对材料的要求很高，目前市面上常用的材料有fr4、torlon pai、pei、pps、peek 陶瓷等。 fr4是普通材料，性能最差，容易磨损，毛刺较多，长时间测试，容易出现测试不稳定现象，已经慢慢淘汰，而其他四种为工; 阅读（84）标签：dfn8|qfn系列|产品|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]探针烧毁的原因分析2021年10月08日 12:04: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。某些ic芯片有可能内部短路，在测试时，造成电流过大，引起探针、针板等配件烧坏，甚至烧坏客户的pcba板，所以在上电测试之前一定要确保ic芯片是没有内部短路的；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（51）标签：|dfn8|qfn系列|车规芯片老化测试座|wson8|产品|bga老化测试座||qfn烧录座|微针模组|qfn老化座

[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别2021年10月08日 12:01: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。有锡球测试：指测试带有完整锡球的ic芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触；无锡球测试：指测试没有锡球的ic芯片，采用尖头探针，直接与pad接触；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（33）标签：dfn8|qfn系列|产品|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|bga老化测试座||

[常见问题]测试探针的结构和使用寿命2021年10月08日 11:56: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。一般探针的材质为铍铜，外为镀镍金，由四个部分组成：针头、针管、针尾、琴钢丝；以此款探针的为例，管径为0.65mm，适用于0.8pitch；耐电流为：3a；机械测试寿命为：30 w次；使用温度为：-25～ 120c；如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（206）标签：产品|qfn系列|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|bga老化测试座|dfn8||

[常见问题]icsocket相关测试座产品报价原则？2021年10月08日 11:03: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。; 阅读（38）标签：产品|qfn系列|dfn8|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[鸿怡动态]bga272翻盖弹片老化座_测试座_烧录座_编程座不带板2021年09月24日 10:49: 工厂介绍鸿怡电子生产bga272翻盖弹片老化座_测试座_烧录座_编程座不带板，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（20）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座2021年09月24日 10:14: 工厂介绍鸿怡电子生产bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（13）标签：bga老化测试座|||产品

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