鸿怡电子生产bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座,同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。
产品简介
一、产品用途:bga152/132探针测试座,对bga152/bga132的芯片进行测试
二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm
三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0
四、有球无球兼容测试,测试稳定
五、特点:探针采用进口的,电流能过3a、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便,操作简单
规格尺寸
一、型号:bga152/132-1.0
二、引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:
14*18mm (bga152) ,
12*18mm (bga132) ,
可更换限位框