您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司j9九游会登陆入口官网
|
|
|
在线留言
|
网站地图
全站搜索 -九游会平台
“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为ic服务
全国服务热线:
13632719880
九游会平台-j9九游会登陆入口
ddr测试夹具
定制ic测试座
bga测试座
qfn测试座
qfp测试座
tsop/sop测试座
其它ic测试座
产品
案例
资讯
品牌
采购
联系
j9九游会登陆入口的人才招聘
热门关键词:
测试座
老化座
烧录座
测试座厂家
当前位置:
九游会平台-j9九游会登陆入口
» » 搜索:flash芯片测试
bga152/132翻盖探针测试座
工厂新品热销,量大价优! 全新设计,采用探针结构,测试座寿命和芯片良率大大提高;
更多
emcp162转20pin测试座 手机数据恢复座
工厂直销店铺 , 质优价廉 欢迎采购!
翻盖弹片老化座,emcp162/186 翻盖弹片老化座,大量现货当天发!
【适配ic常见规格尺寸:11.5*13mm、12*16mm,0.5mm间距;】
更多
emmc153/169 emcp162/186emcp221翻盖探针三合一转sd测试座
※ 采用标准sd接口模式,通过读卡器与电脑连接或通过编程器sd接口连接实现测试或烧录等相应操作;
※ 兼容有球无球测试,ic限位框采用模具一体成型,可根据ic选择不同大小限位框进行更换,实现不同;
更多
bga100翻盖弹片转dip48测试座
flash芯片测试
座
深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn/qfp、ic的burn-in socket和test socket
更多
emmc153/169翻盖安卓手机数据恢复测试盒
安卓手机数据恢复测试盒
emmc 153/169 nada flash芯片测试盒
更多
sm2258h转bga152/132一拖四双面弹测试夹具
ssd闪存测试夹具,sm2258h主控,bga152/132一拖四测试治具。一块测试板 四个bga152测试座。(测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换)
更多
bga152/132/88翻盖弹片转dip48芯片测试座
bga152/132/88翻盖弹片老化座 ssd nand flash芯片测试座 转dip48
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片测试座,bga152-1.0翻盖弹片测试座,大量现货当天发! 【翻盖/带转dip48板】
更多
bga152/132翻盖弹片转dip96芯片测试座
bga152转dip96 翻盖 测试座 bga132芯片测试座 单颗8ce闪存测试 工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片测试座,bga152-1.0翻盖弹片转dip96测试座,大量现货当天发! 【翻盖/带板】
更多
tf24翻盖探针转dip48芯片测试座
采用手动翻盖式结构,操作方便; 产品通用程度高,只要换限位框,即可测试所有引脚相同,外形尺寸不同的sd卡; 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证sd卡的压力均匀,不移位; 高精度的定位槽,保证sd卡定位精...
更多
emcp162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket emcp162/186下压弹片转20pin芯片测试座 安卓手机数据恢复专用
更多
emcp221翻盖弹片转20pin芯片测试座
集成电路应用功能验证测试
可根据用户要求定做各种阵列的socket
emcp221翻盖弹片转20pin芯片测试座 安卓手机数据恢复专用
更多
bga132/152转dip48g下压弹片flash芯片测试座
更多
慧荣sm2256k主控转bga316一拖二ssd闪存测试治具
该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的测试座有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球的芯片。
更多
emcp221合金翻盖探针转sd接口ic测试座
emcp221 翻盖合金探针转sd接口 测试座 我司致力于emcp221 fbga221测试九游会平台的解决方案 欢迎厂家、芯片封装厂来电咨询、合作 用起来像u盘一样简单!
更多
[鸿怡动态]鸿怡电子第四代flash芯片bga152/132测试座全新上市
2022年03月02日 09:41
2022新年伊始,flash芯片市场异常火爆,缺芯短芯现象仍在上演。
flash芯片测试
座的需求也越来越多,为了迎合市场,给客户带来更低成本,性价比更好的产品。鸿怡电子的研发设计团队不断精溢求精。设计出了新一代的bga152翻盖探针测试座,新款的产品经过改良,在结构性能上也优于旧款。 产品经过全新设计,相比上一代产品更有稳定性,操作更方便,效率更高。 1.机械测试寿命10万次,相比同类产品具有更高的使用寿命,保修时间一年半。 2.支持有球/无球同测,使用温度-40℃~
阅读(84)
标签:
[鸿怡动态]bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座
2021年09月24日 10:14
工厂介绍 鸿怡电子生产bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座,同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。
阅读(13)
标签:
bga老化测试座
|||
产品
[鸿怡动态]bga152/132/88翻盖弹片老化座_ssd nand flash芯片测试座转dip48
2021年09月23日 10:24
工厂介绍 鸿怡电子生产bga152/132/88翻盖弹片老化座_ssd nand flash芯片测试座转dip48,同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。
阅读(25)
标签:||
bga老化测试座
|
产品
[行业资讯]flash芯片的分类
2019年03月19日 18:28
flash又分nand flash和nor flash,nor型存储内容以编码为主,其功能多与运算相关;nand型主要功能是存储资料,如数码相机中所用的记忆卡。 现在大部分的ssd都是用来存储不易丢失的资料,所以ssd存储单元会选择nand flash芯片。这里我们讲的就是ssd中的nand flash芯片。针对flash芯片的测试,鸿怡电子可以提供完整的
flash芯片测试
治具及其九游会平台的解决方案。 (1)nor flash:主要用来执行片上程序 优点:具有很好的读写性能和随机访问性
阅读(63)
标签:
[鸿怡动态]厉害了,我们的ic测试
2018年11月23日 15:46
深圳市鸿怡电子有限公司坐拥一支在集成电路测试行业有多年经验的团队,立志打造全球领先的socket供应厂商。 主要测试产品分布如下: flash自动测试机台:flash量产测试低成本九游会平台的解决方案 主要用于flash芯片整盘测试\量产,一次可以测一颗或多颗,体积小、成本低、效率高。 fae验证方案 主要用于 芯片的验证测试用,也可以用于量产,主要用于ic的测试验证,间距可做0.25mm -1.27mm,即买即用,模块化设计,交期最快仅需5-6天。 socket pcb转接
阅读(64)
标签:
[行业资讯]5g时代来临,带来更高存储要求
2018年11月13日 16:32
随着5g时代的全面到来,未来将会对移动存储的要求越来越高,希望有更低延时,更大的存储密度。容量从之前的39gb,到2030年可能达到185gb需求。另外ufs会成为移动市场当中的一个主流,预测从明年开始,ufs将会占到整个市场的20%以上。 根据市场的发展需求,鸿怡电子已推出各种适用于tlc\mlc等flash闪存芯片的测试治具,以及针对主流芯片ufs的ufs测试座。测试治具产品覆盖各个行业领域、各类封装的ic。 针对低延时的市场需求,韩国三星去年推出了第一个z-nand
阅读(171)
标签:
2
下一页
尾页
相关搜索
热点聚焦
鸿怡电子测试座的应用介绍
测试座就是一种具有测试...
探讨关于bga测试座所具有的特点及价...
bga测试座具有哪些特点?...
1
电子产品寿命短?hast老化试验做了吗?
2
寻找志同道合的工作伙伴!
13632719880
网站地图