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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: sop20(28)-0.65芯片老化测试座

绝缘体： pei、pps
弹片：铍铜
寿命： 1.5万次
工作温度： -60℃~155℃
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: qfn56-0.5翻盖弹片ic老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn56的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn56引脚间距0.5mm
测试座:qfn56-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn24-0.5翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn24，mlp24，mlf24 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfn24翻盖单层板芯片烧录座

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn24引脚间距0.5mm
测试座:qfn24-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn24-0.5 双层板芯片测试座

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn24引脚间距0.5mm 测试座:qfn24-0.5 特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn20的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn20，mlp20，mlf20 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfn12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn12 引脚间距0.5mm
测试座： qfn12-0.5
特点：采用u型顶针，接触更稳定
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: qfp64下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfp64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn64引脚间距0.5mm
测试座：qfp64-0.5烧录座
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: qfp48下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfp48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp48引脚间距0.5mm
测试座：qfp48-0.5烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfp176芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfp176的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp176、引脚间距0.5mm
测试座：qfp176-0.5-06
特点:四周按芯片顺序引出所有引脚
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: qfp44下压弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfp44的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp44引脚间距0.8mm
测试座：qfp4-0.8老化座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfp80下压弹片芯片老化座

产品用途：老化座、测试座，对qfp80的ic芯片进行测试适用封装：tqfp80、 qfp80、引脚间距0.5mm 测试座： ic234-0804-001 特点：适用于tqfp80、 qfp80、引脚间距0.5mm的ic
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[新闻中心]bga156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试！2023年02月09日 15:27: bga老化测试座、bga测试座、bga烧录座、bga测试socket 芯片测试 bga156pin芯片老化座规格参数：测试芯片封装类型：bga 测试芯片引脚：156pin 测试芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：16×20mm bga芯片老化测试座 bga芯片老化测试要求：测试频率：小于200mhz 测试温度：-40~ 155 老化测试时长：5000小时测试电流：300ma 老化座材料：塑胶老化座结构：翻盖式 bga156pin芯片老化测试座; 阅读（8）标签：新闻|||定制测试座|产品

[新闻中心]qfn16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例2023年02月07日 15:16: qfn老化测试座规格参数：测试芯片封装类型：qfn 测试芯片引脚：16pin 测试引脚间距：0.5mm 测试芯片尺寸：3×3mm qfn封装芯片老化测试座 qfn16pin封装芯片老化测试要求：老化测试温度：-40~ 100 性能测试：测试电流：整体1a 测试回损：-20db@2ghz 测试插损：-2db@2ghz 测试温度：正常温度老化测试座材料：合金老化测试座结构：旋钮式双扣制作方式：加工定制; 阅读（14）标签：新闻|产品|qfn系列|qfn烧录座|qfn老化座|定制测试座|定制测试治具

[新闻中心]深圳鸿怡电子lcc24pin封装芯片翻盖老化座案例2023年02月06日 11:05: lcc测试座、lcc老化座规格：芯片封装类型：lcc 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm ic老化测试座 lcc封装芯片老化测试要求：测试温度： 150，无低温要求测试时长：8000小时（持续温度150）测试操作力：30每p 测试频率：-1db 3g 测试电流：1a（@150）接触电阻：30毫欧 10ma 20mv 绝缘电阻：dc100v 1000兆欧已上老化座材料：pei 老化座结构：翻盖式; 阅读（7）标签：

[新闻中心]浅聊芯片老化测试、芯片烧录，ic测试以及对应的座子定义！2022年11月30日 11:40: 鸿怡电子ic老化座/老炼座/老化测试socket
ic烧录座/编程座/快速夹/读写座/清空座
ic测试座/测试座socket/测试插座; 阅读（35）标签：产品|新闻||sop烧录座|晶振测试座|定制ic测试架|qfn老化座|qfn系列|clcc测试座|ddr测试夹具|蝶形模块测试座|flash测试座|晶振老化座

[新闻中心]逆变电路（核心）之一ipm芯片简介与vqfn封装测试座2022年11月15日 11:18: ipm是integratedpowermodule简称，即集成功率组件，ipm芯片常见的封装类型为vqfn，与之匹配的为vqfn测试座，sipm组件是系统集成功率组件，即功率组件集系统控制于一体的芯片，是专门为该芯片设计的pmsm电机和bldc驱动芯片由电机设计（pmsm电机为永磁同步电机，bldc电机为dc无刷电机)；该芯片也可用于空调风扇和水泵驱动。组件芯片集成arm架构cpu，16kb的mtprom以及含有4kb电机驱动的sram并含有i2c以及uart接口、门; 阅读（17）标签：qfn系列|产品|新闻|qfn老化座|qfn烧录座|电源测试座|定制测试座

[新闻中心]为第三代半导体的崛起“添砖加瓦”鸿怡电子第三代下压老化座2022年10月26日 12:14: 碳化硅与硅相比（sic）和氮化镓（gan）第三代半导体具有效率高、能耗低、散热快等特点。第三代半导体设备可提供高压、高速开关和低导电阻。鉴于该特性，其将成为有助于降低能耗和缩小系统尺寸的下一代低损耗器件。; 阅读（11）标签：产品|新闻|qfn系列|车规芯片老化测试座|定制ic测试架|电源测试座|toll封装测试座|定制测试座|定制测试治具

[鸿怡动态]芯片工程师看过来，为你总结ic老化测试中需要关注的九个点2022年07月25日 16:25: 芯片的老化对于芯片测试来说是至关重要的，但是有哪些需要注意的地方呢？根据以往的经验，我们总结了9个需要关注的问题点，在这篇文章中，我们来聊聊。dft工程师可以根据这9点来思考和优化你的芯片老化测试方案： 1. 我们应该走多远才能通过老龄化减少过早死亡？ bi(burn-in) / elfr(early life failure rate)：通过bi方法-dppm(defect parts per-million)评估早死阶段的失效率或降低出货的早死率。老化要注意的要; 阅读（131）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子为您提供优质的qfn封装芯片老化测试座2022年06月24日 17:42: ★ 电子时代，无线通信核心芯片的应用越来越广，这些芯片除了手机和其他终端消费电子设备外，越来越多地被应用到商业和游戏笔记本电脑中。随着芯片供应商加速开发wi fi芯片的九游会平台的解决方案，后续对qfn类芯片的封装和芯片测试需求会越来越多。据业务人士称，芯片制造商预计将使用 7nm / 6nm 工艺节点制造 wi-fi 7 核心芯片，采用 qfn 封装并进行老化测试。 qfn封装是当下主流的封装形式。在传统封装中，无论是芯片封装面积还是最终芯片重量，; 阅读（49）标签：

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