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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: qfn56-0.5翻盖弹片ic老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn56的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn56引脚间距0.5mm
测试座:qfn56-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn24-0.5翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn24，mlp24，mlf24 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfn24翻盖单层板芯片烧录座

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn24引脚间距0.5mm
测试座:qfn24-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn24-0.5 双层板芯片测试座

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn24引脚间距0.5mm 测试座:qfn24-0.5 特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn20的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn20，mlp20，mlf20 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfn12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn12 引脚间距0.5mm
测试座： qfn12-0.5
特点：采用u型顶针，接触更稳定
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: qfp64下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfp64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn64引脚间距0.5mm
测试座：qfp64-0.5烧录座
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: qfp48下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfp48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp48引脚间距0.5mm
测试座：qfp48-0.5烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfp176芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfp176的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp176、引脚间距0.5mm
测试座：qfp176-0.5-06
特点:四周按芯片顺序引出所有引脚
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: qfp44下压弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfp44的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp44引脚间距0.8mm
测试座：qfp4-0.8老化座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfp80下压弹片芯片老化座

产品用途：老化座、测试座，对qfp80的ic芯片进行测试适用封装：tqfp80、 qfp80、引脚间距0.5mm 测试座： ic234-0804-001 特点：适用于tqfp80、 qfp80、引脚间距0.5mm的ic
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[新闻中心]bga156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试！2023年02月09日 15:27: bga老化测试座、bga测试座、bga烧录座、bga测试socket 芯片测试 bga156pin芯片老化座规格参数：测试芯片封装类型：bga 测试芯片引脚：156pin 测试芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：16×20mm bga芯片老化测试座 bga芯片老化测试要求：测试频率：小于200mhz 测试温度：-40~ 155 老化测试时长：5000小时测试电流：300ma 老化座材料：塑胶老化座结构：翻盖式 bga156pin芯片老化测试座; 阅读（8）标签：新闻|||定制测试座|产品

[新闻中心]qfn16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例2023年02月07日 15:16: qfn老化测试座规格参数：测试芯片封装类型：qfn 测试芯片引脚：16pin 测试引脚间距：0.5mm 测试芯片尺寸：3×3mm qfn封装芯片老化测试座 qfn16pin封装芯片老化测试要求：老化测试温度：-40~ 100 性能测试：测试电流：整体1a 测试回损：-20db@2ghz 测试插损：-2db@2ghz 测试温度：正常温度老化测试座材料：合金老化测试座结构：旋钮式双扣制作方式：加工定制; 阅读（14）标签：新闻|产品|qfn系列|qfn烧录座|qfn老化座|定制测试座|定制测试治具

[新闻中心]为第三代半导体的崛起“添砖加瓦”鸿怡电子第三代下压老化座2022年10月26日 12:14: 碳化硅与硅相比（sic）和氮化镓（gan）第三代半导体具有效率高、能耗低、散热快等特点。第三代半导体设备可提供高压、高速开关和低导电阻。鉴于该特性，其将成为有助于降低能耗和缩小系统尺寸的下一代低损耗器件。; 阅读（11）标签：产品|新闻|qfn系列|车规芯片老化测试座|定制ic测试架|电源测试座|toll封装测试座|定制测试座|定制测试治具

[鸿怡动态]鸿怡电子为您提供优质的qfn封装芯片老化测试座2022年06月24日 17:42: ★ 电子时代，无线通信核心芯片的应用越来越广，这些芯片除了手机和其他终端消费电子设备外，越来越多地被应用到商业和游戏笔记本电脑中。随着芯片供应商加速开发wi fi芯片的九游会平台的解决方案，后续对qfn类芯片的封装和芯片测试需求会越来越多。据业务人士称，芯片制造商预计将使用 7nm / 6nm 工艺节点制造 wi-fi 7 核心芯片，采用 qfn 封装并进行老化测试。 qfn封装是当下主流的封装形式。在传统封装中，无论是芯片封装面积还是最终芯片重量，; 阅读（49）标签：

[根栏目]定制sop8-1.27-11.5×7.5测试座2021年10月25日 17:19: 工厂介绍鸿怡电子生产定制sop8-1.27-11.5×7.5测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。; 阅读（33）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]下压式ic老化座_np506-020-045-sc-g_qfn20-0.4芯片测试座2021年10月18日 14:42: 工厂介绍鸿怡电子生产下压式ic老化座_np506-020-045-sc-g_qfn20-0.4芯片测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn20的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn20 引脚间距0.4mm测试座:qfn20-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-20-0.4引脚; 阅读（50）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_qfn芯片老化座2021年10月18日 11:35: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn28-0.4芯片测试座_烧录座_编程座_qfn芯片老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn28的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn28引脚间距0.4mm测试座:qfn28-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-28-0.4引脚间距(mm):0.4脚位; 阅读（57）标签：dfn8|qfn系列|产品|qfn老化座|qfn烧录座|wson8|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]qfn32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座2021年10月18日 11:29: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试适用封装：qfn32引脚间距0.5mm测试座：qfn32-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸qfn32编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（32）标签：dfn8|qfn系列|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座2021年10月18日 11:10: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座_编程座_烧录夹具插座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。老化测试座qfn3x3-16l(0.5)带顶针镀金老化座编程座烧录夹具插座适配封装：qfn封装-16pin间距：0.5mm尺寸：3*3mm; 阅读（37）标签：产品|qfn系列|dfn8|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

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