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产品数据:
1、材料：pei
2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3ghz
4、结构：open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°c～175°c
探针接触细节
产...

产品数据:
1、材料：pei
2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3ghz
4、结构：open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°c～175°c
探针接触细节
产...

产品数据: 1、材料：pei 2、适用ic尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3ghz 4、结构：open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°c～175°c 探针接触细节 产品特点： 1、采用开模socket 探针...

issd测试治具 issd测试 尺寸12*20

产品特点：可以测试各类封装的flash bga100 /132/152 /tsop48/lga等的双面弹测试座都可以随意更换

bga63 0.8间距socket 翻盖弹片测试座装满63针通孔焊接型老化座
工厂直销店铺，质优价廉！欢迎采购！
bga63翻盖弹片老化座，大量现货当天发！ 【0.8间距/63满pin/不带板】

emcp162探针金属盒转usb3.0母口测试座 emcp162/186转usb3.0测试座 usb3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次

emmc169探针金属盒转usb3.0母口测试座
emmc153转usb3.0测试座
usb3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次

open-top结构采用双触点技术，接触更稳定 测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长 弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性好 镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度

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工厂新品直销，品质保证 欢迎批发！贴片式电容测试老化座，欢迎有需要的企业或个人咨询洽谈！

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bga272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了flash行 业研发的低成本九游会平台的解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的...

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便； ※ 上盖的ic压板采用旋压式结构，下压平稳，保证ic的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位...