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bga132/152转dip48g下压弹片flash
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sm2246主控ssd一拖四nand flash万能测试板
现在ssd固态硬盘与u盘3.0市场bga132/152的芯片使用量越来越大,固态硬盘的容量与速度越来越大,8ce的flash也在各大厂家使用越来越多了,我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利,开发了一款多功能固态硬盘测试板。
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慧荣sm2256k主控转bga316一拖二ssd闪存测试治具
该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的测试座有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球的芯片。
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smi2246en主探转bga152/132一拖二ssd flash测试治具
产品特点:可以测试各类封装的flash bga100 /132/152 /tsop48/lga等转dip48的测试座都可以随意更换
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gddr5内存
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bga24-1.0下压弹片
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产品用途:测试座,对bga24的ic芯片进行测试、数据清空
? 适用封装:bga24 引脚间距1.0mm
测 试 座:bga24-1.0老化座
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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bga221-0.5下压弹片
芯片测试
老化座
产品用途:测试座,对bga221的ic芯片进行测试、数据读写
适用封装:bga221 引脚间距0.5mm
测 试 座:bga221-0.5
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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bga107-0.8下压弹片
芯片测试
老化座
产品用途:测试座,对bga107的ic芯片进行测试、数据读写
适用封装:bga107 引脚间距0.8mm
测 试 座:bga107-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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bga48-0.8下压弹片
芯片测试
老化座
产品用途:ic测试座、ic老化座,对bga67的ic芯片进行测试、数据清空;
适用封装:bga48 引脚间距0.8mm
测 试 座:bga48-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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bga67-0.8下压弹片
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老化座
产品用途:测试座,对bga67的ic芯片进行测试、数据清空
适用封装:bga67 引脚间距0.8mm
测 试 座:bga67-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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