bga96转dip96翻盖测试座-九游会平台
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浏览:- 发布日期:2021-09-22 15:52:34【 】
工厂介绍

鸿怡电子生产bga96转dip96翻盖测试座_0.8间距芯片老化烧录测试座,同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。

bga96-0.8间距芯片老化烧录测试座

产品简介

产品用途:测试座,对bga96的ic芯片进行测试

适用封装:bga96 引脚间距0.8mm

测试座:bga96-0.8

特点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。翻盖换取芯片方便,操作简单

规格尺寸

型号:bga96-0.8

引脚间距(mm):0.8

脚位:96

芯片尺寸:11.6*7.95

阵距:12*8

bga96转dip96-0.8间距芯片老化测试座

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