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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: tsop66-0.6下压弹片ic测试老化座

产品用途：老化座、测试座，对tsop66的ic芯片进行测试
适用封装: tsop66引脚间距0.65mm
测试座: tsop66-0.65 socket
特点: 采用双触点技术接触更稳定导电体抗...
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: tsop48宽窄共用ic闪存测试老化座

产品用途：老化座、测试座，对tsop48的ic芯片进行测试
适用封装：tsop48 引脚间距0.5mm
测试座： tsop48宽窄共用老化座
特点：宽...
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: tsop56下压弹片ic测试老化座

产品用途：老化座、测试座，对tsop56的ic芯片进行测试
适用封装: tsop56引脚间距0.5mm
测试座： tsop56-0.5-01
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: tsop54-0.8下压弹片ic测试老化座

产品用途：老化座、测试座，对tsop54的ic芯片进行测试
适用封装： tsop54引脚间距0.8mm
测试座： tsop54-0.8 socket
特点：导电体采用进口铍铜材料厚金处理，阻...
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: 标准tsop48芯片烧录座闪存测试座

产品用途：老化座、测试座，对tsop48的ic芯片进行测试、烧录
适用封装：tsop48 引脚间距0.5mm
测试座：tsop48烧录座
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: tsop48下压宽体flash芯片老化座

产品用途：老化座、测试座，对tsop48的ic芯片进行测试
适用封装： tsop48宽体引脚间距0.5mm
测试座： nan flash
特点：直接采用客户提供的产品板简便快捷验证...
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: qfn52-0.5翻盖弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn52的ic芯片进行老化、测试
适用封装:qfn52引脚间距0.5mm
测试座:qfn52-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn64-0.5翻盖弹片ic测度老化座

产品用途: 编程座、测试座，对qfn64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn64引脚间距0.5mm
测试座: qfn64-0.5
特点: 底部引出引脚为不规则排列
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: qfn60-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn60的ic芯片进行老化、测试
适用封装:qfn60引脚间距0.4mm
测试座:qfn60-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn56-0.5翻盖弹片ic老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn56的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn56引脚间距0.5mm
测试座:qfn56-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn48-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48-0.4
测试座：qfn48-0.4老化座
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: qfn48-0.5翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48-0.5
测试座：qfn48-0.5老化座
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: qfn40-0.4下压弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测试座:qfn40-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn40-0.5翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试适用封装： qfn40引脚间距0.5mm 测试座： qfn40-0.5 特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfn40-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测试座:qfn40-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn36-0.4下压弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.4mm
测试座:qfn36-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn36-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.4mm
测试座:qfn36-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn32-0.4翻盖弹片芯片老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn32引脚间距0.4mm
测试座:qfn32-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定
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: qfn32翻盖弹片转dip152芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn32引脚间距0.5mm
测试座：qfn32翻盖弹片转152烧录座
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: qfn32-0.5翻盖弹片芯片测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn32引脚间距0.5mm
测试座： qfn32-0.5
特点：底部引出引脚为不规则排列
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