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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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[鸿怡动态]qfn32-0.4cpo1gt翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座_qfn老化测试座2021年10月09日 15:53: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn32-0.4cpo1gt翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座_qfn老化测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试适用封装:qfn32引脚间距0.4mm测试座:qfn32-0.4特点:采用u型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:qfn-32-0; 阅读（13）标签：qfn系列|dfn8|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|产品|车规芯片老化测试座

[常见问题]icsocket关于pcb板的设计2021年10月08日 12:15: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。为了保障pcb板的强度和接触稳定性，建议客户pcb板的厚度1.6mm，焊盘镀金抗氧化性更强，锁螺丝处覆铜；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（49）标签：产品|qfn系列|dfn8|||bga老化测试座|车规芯片老化测试座|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组

[常见问题]探针烧毁的原因分析2021年10月08日 12:04: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。某些ic芯片有可能内部短路，在测试时，造成电流过大，引起探针、针板等配件烧坏，甚至烧坏客户的pcba板，所以在上电测试之前一定要确保ic芯片是没有内部短路的；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（51）标签：|dfn8|qfn系列|车规芯片老化测试座|wson8|产品|bga老化测试座||qfn烧录座|微针模组|qfn老化座

[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别2021年10月08日 12:01: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。有锡球测试：指测试带有完整锡球的ic芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触；无锡球测试：指测试没有锡球的ic芯片，采用尖头探针，直接与pad接触；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（33）标签：dfn8|qfn系列|产品|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|bga老化测试座||

[常见问题]测试探针的结构和使用寿命2021年10月08日 11:56: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。一般探针的材质为铍铜，外为镀镍金，由四个部分组成：针头、针管、针尾、琴钢丝；以此款探针的为例，管径为0.65mm，适用于0.8pitch；耐电流为：3a；机械测试寿命为：30 w次；使用温度为：-25～ 120c；如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（206）标签：产品|qfn系列|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|bga老化测试座|dfn8||

[鸿怡动态]qfn28-0.5下压弹片测试座_5x5mm耐高温老化座_qfn28夹具2021年09月24日 11:18: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn28-0.5下压弹片测试座_5x5mm耐高温老化座_qfn28夹具，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（17）标签：qfn系列|dfn8|wson8|qfn烧录座|qfn老化座|产品

[鸿怡动态]bga272翻盖弹片老化座_测试座_烧录座_编程座不带板2021年09月24日 10:49: 工厂介绍鸿怡电子生产bga272翻盖弹片老化座_测试座_烧录座_编程座不带板，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（20）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座2021年09月24日 10:14: 工厂介绍鸿怡电子生产bga152翻盖弹针空座_bga132探针老化座_flash芯片测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（13）标签：bga老化测试座|||产品

[鸿怡动态]bga152/132/88翻盖弹片老化座_ssd nand flash芯片测试座转dip482021年09月23日 10:24: 工厂介绍鸿怡电子生产bga152/132/88翻盖弹片老化座_ssd nand flash芯片测试座转dip48，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（25）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga107下压弹片老化座_flash闪存颗粒测试座_0.8间距andk编程座2021年09月23日 10:18: 工厂介绍鸿怡电子生产bga107下压弹片老化座_flash闪存颗粒测试座_0.8间距andk编程座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（20）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga100转usb测试座清空座_emmc100下压老化座烧写座_芯片转换座2021年09月23日 10:11: 工厂介绍鸿怡电子生产bga100转usb测试座清空座_emmc100下压老化座烧写座_芯片转换座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（13）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga96转dip96翻盖测试座_0.8间距芯片老化烧录测试座2021年09月22日 15:52: 工厂介绍鸿怡电子生产bga96转dip96翻盖测试座_0.8间距芯片老化烧录测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（26）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga67下压弹片老化座_0.8间距bga67烧写座_芯片适配器测试座2021年09月22日 15:38: 工厂介绍鸿怡电子生产bga67下压弹片老化座_0.8间距bga67烧写座_芯片适配器测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（12）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga64翻盖弹片老化测试座_烧录座_编程座_不带板fbga芯片测试座2021年09月22日 15:29: 工厂介绍鸿怡电子生产bga64翻盖弹片老化测试座_烧录座_编程座_不带板fbga芯片测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（21）标签：|bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga63下压弹片老化座_u盘芯片测试座_bga63-0.8测试座2021年09月22日 15:22: 工厂介绍鸿怡电子生产bga63下压弹片老化座_u盘芯片测试座_bga63-0.8测试座，同时还生产其他ic芯片测试夹具治具。; 阅读（20）标签：||bga老化测试座|产品

[鸿怡动态]bga48下压弹片老化座0.8mm间距编程座_andk测试座2021年09月22日 11:41: 工厂介绍鸿怡电子生产bga48下压弹片老化座0.8mm间距编程座_andk测试座，同时还生产其他ic测试夹具治具。; 阅读（19）标签：||产品

[鸿怡动态]qfn64-0.5芯片测试座_ic老化座_翻盖编程座镀金针burn-in socket2021年09月10日 16:14: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn64-0.5芯片测试座_ic老化座_翻盖编程座镀金针burn-in socket，同时还生产其他ic测试夹具治具。; 阅读（27）标签：qfn老化座|qfn烧录座|wson8|qfn系列|产品|dfn8

[鸿怡动态]qfn88老化座_qfn88-0.4芯片座_10×10mm烧录座_0.4间距镀金测试座2021年09月09日 16:04: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn88老化座_qfn88-0.4芯片座_10×10mm烧录座_0.4间距镀金测试座，同时还生产其他ic测试夹具治具。; 阅读（50）标签：dfn8|qfn系列|产品|wson8|qfn烧录座|qfn老化座

[鸿怡动态]qfn32老化座_4×4间距烧录座_ic socket_qfn32-0.4翻盖测试座2021年09月09日 15:52: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn32老化座_4×4间距烧录座_ic socket_qfn32-0.4翻盖测试座，同时还生产其他ic测试夹具治具。; 阅读（54）标签：qfn烧录座|qfn老化座|wson8|qfn系列|dfn8|产品

[鸿怡动态]qfn32-0.4测试座转dip32烧录座_编程座_老化座2021年09月09日 14:42: 工厂介绍鸿怡电子生产qfn32-0.4测试座转dip32烧录座_编程座_老化座，同时还生产其他ic测试夹具治具。; 阅读（28）标签：qfn老化座|qfn烧录座|wson8|qfn系列|产品|dfn8

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